EVK Helios EC32
Die EVK HELIOS EC32 ist eine Hyperspektralkamera, die optisch korrigierte und räumlich aufgelöste Spektraldaten liefert. Die Zeilenkamera bietet berührungslose und zerstörungsfreie kurzwellige Infrarot-Bildgebungsspektroskopie in Echtzeit zur Identifizierung von Materialarten in industriellen Anwendungen.
Mit 320 Pixeln örtliche Sensorauflösung ausgerüstet, misst EVK HELIOS EC32 im Wellenlängenbereich von 930 nm bis 1700 nm und scannt dabei mit einer Bildrate von 446 Hz Vollspektrum. Eine Anbindung an bereits bestehende Auswertungssysteme, wie beispielsweise der EVK ALPHA ist einfach über GigE Vision/GenICam möglich.
In Kombination mit der EVK ALPHA Bilddatenklassifizierungsplattform und der Software EVK SQALAR bietet die Hyperspektralkamera EVK HELIOS EC32 ein leistungsstarkes System für die Inline-Analyse und Überwachung von Produktströmen in einer Reihe von Branchen.
Hyperspektralkamera für industrielle Anwendungen
Die EVK HELIOS EC32 ist eine Hyperspektral Core-Kamera mit optisch korrigierter Spektraldatenausgabe und einer räumlichen Sensorauflösung von 320 Pixel.
Diese Zeilenkamera wurde speziell für den flexiblen Einsatz in industriellen Applikationen entwickelt. Die Kombination mit dem modularen Konzept der EVK ALPHA bietet die Flexibilität erforderliche Module einfach hinzuzufügen oder auszutauschen.
Value Statements
Hyperspektrale Bildgebungskamera
für Inline-Operationen in Echtzeit
Plug and Play
optisch korrigierte Ausgabedaten, keine externe Kalibrierung notwendig
Schnittstellenstandard
GigE Vision und GenICam kompatibel
Ausgezeichnetes Signal-Rausch-Verhältnis
SRV von 3.500 bei nomineller örtlicher Sensorauflösung von 320 Pixel
Kompaktes und robustes Design
für industrielle Anwendungen
Von der Applikationsentwicklung bis zur Integration
Das EVK Professional Services Team begleitet die Kunden von der Applikationsentwicklung bis zur vollen Integration des EVK HELIOS EC32 Systems in die Anlage. EVK ermöglicht dadurch die Integration modernster Echtzeitanalysesysteme in kürzester Zeit, um Verarbeitungslinien erfolgreich für die Zukunft zu rüsten und somit das volle Potential der Anwendungen auszuschöpfen.
Technische Details
- Spektralbereich im Nahinfrarot (NIR) und kurzwelligem Infrarot (SWIR): 930 nm bis 1700 nm
- Scanrate von 446 Hz Vollspektrum (248 Spektrale Banden), bis zu 3,8 kHz mit ROI
GigE Vision/GenICam Schnittstelle
Robustes, industrietaugliches Design. Schutzklasse IP54
Temperaturbereich 0°C – 45°C bei voller optischer Stabilität
Geeignet für Inline-Klassifizierung, Messtechnik und Sortierung (in Kombination mit EVK ALPHA)
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Typische Kombinationen
unserer Anwendungen
Ergänzt um die EVK ALPHA und den eigens entwickelten Algorithmen ermöglicht die EVK HELIOS EC32 das zuverlässige Erkennen unerwünschter Objekte und die Extraktion wertvoller Schlüsseldaten für die Inspektion und Überwachung, sowie für präzise Sortierbefehle.
Die Software EVK SQALAR ermöglicht die effiziente Erstellung chemometrischer Modelle. Die optimierte und benutzerfreundliche Anwendung ermöglicht eine flexible und schnelle Entwicklung von Applikationen, wodurch die Entwicklungszeit minimiert und der Prozess wirtschaftlich effektiv gestaltet werden kann. Der EVK STREAM Supervisor dient zur Mehrpunktüberwachung industrieller Stoffströme.
Darüber hinaus liefert, der induktive Metallsensor EVK ABAS ortsaufgelöste Informationen über leitfähiges Material im Produktstrom und kann so zuverlässig eisenhaltige und nichteisenhaltige Metallpartikel erkennen und den Befehl zum aussortieren übermitteln.